EMV-Messungen an Halbleitern
EMV-Messungen an Halbleiterelementen sind in unseren Labors nach allen weltweit gängigen Normen und Richtlinien möglich. So finden wir heraus, ob die mikroelektronischen Bauteile elektromagnetische Störungen aussenden oder von externen Einflüssen gestört werden.
Halbleiterelemente in integrierten Schaltkreisen oder Leistungselektroniken berechnen und verteilen die Daten und Informationen unserer digitalen Welt. Jeder braucht Sie, aber (fast) keiner bekommt sie zu Gesicht. Doch wie wissen wir vorab, dass diese mikroelektronischen Bauteile „gesund“ sind und sich wohl fühlen?
Dafür sorgen die Spezialisten von Mooser mit ihren präzisen und umfassenden EMV-Messungen an Halbleiterelementen.
Messverfahren, Messtechnik und Infrastruktur Spezielle Messumgebung für Halbleiter
Für EMV-Tests an Halbleitern hält Mooser die passenden Messumgebungen -verfahren vor. Einzelne Halbleiterelemente werden beispielsweise in der µTEM-Zelle (Transverse Electromagnetic Cell) auf ihre Störemissionen und ihre Störfestigkeit überprüft. Eine Nummer kleiner ist dies auch auf der IC Stripline möglich, einem nur 17 mal 12 Zentimeter großen Testboard. µTEM-Zelle und IC Stripline können bei Bedarf mit einer Schirmbox vor äußeren Einflüssen geschützt werden. Für größere Prüflinge wie komplette Steuergeräte und noch umfangreichere Messungen stehen unsere Kabinen bereit, mit der sich praktisch alle elektromagnetischen Störphänomene ermitteln lassen.
Nach diesen Normen werden Halbleiter gemessen
Grundsätzlich ist zwischen Störaussendungen und Störfestigkeit gegenüber externen Störungen zu unterscheiden. Störaussendungen von Halbleitern werden zum Beispiel nach der DIN EN 61967-2 und SAE J1752-3 in der µTEM-Zelle gemessen. Mooser ist einer der wenigen Automotive-Dienstleister weltweit, der diese Messungen anbietet. Weitere Messungen erfolgen nach der DIN EN 61967-4 (Messung der direkten 1 Ohm/150 Ohm-Kopplung an jedem Netzwerkpin) und DIN EN 61967-5 (Magnetsondenverfahren). Aber auch mit Normen wie der IEC 61967-3 (Oberflächenabtastung mit kleiner Messsonde) und IEC 61967-8 (das nur von wenigen Automotive-Dienstleistern beherrschte IC Stripline Verfahren) lässt sich die EMV-Störaussendung bestimmen.
Für die Störfestigkeitsmessungen werden – im Prinzip umgekehrt wie bei den Störaussendungsmessungen – externe Störimpulse an den Halbleiter gebracht und seine Reaktion darauf getestet. Wesentliche Normen sind in der DIN EN 62132-2 (µTEM-Zellentests), DIN EN 62132-3 (Stromeinspeisungs-(BCI-)Verfahren) und der DIN EN 62132-4 (Einprägung der Störgröße direkt vom Verstärker auf die Pins des Halbleiters) beschrieben. Aber auch Tests nach der IEC 62132-8 (Halbleiter-Stripline-Verfahren) und der IEC62215-3 (Pulsprüfung mit transienten Spannungsverläufen) bringen zu Tage, ob die Halbleiter zuverlässig arbeiten. Transceiver zu den LIN- und CAN-Datennetzen werden nach SAE J2962-1 (LIN) und SAE J2962-2 (CAN) auf Störaussendungen und Störfestigkeit überprüft.
Mooser bietet Messtechnik, Betreuung und Kundenverständnis
Die Nachfrage nach Halbleitermessungen hat bei uns in jüngster Zeit deutlich an Fahrt gewonnen. Denn Branchen wie Automotive haben erkannt, dass EMV-basierte Fehlfunktionen der Halbleiter und Steuergeräte insbesondere bei sicherheitsrelevanten Systemen wie Airbag, Lenkung und bei automatisierten Fahrfunktionen schwerwiegende Sicherheitsrisiken auslösen können. Ergänzend kommt hinzu, dass Halbleiterelemente immer komplexer werden und immer mehr Funktionen enthalten.
Wir sind einer der wenigen Anbieter, der seinen Kunden ein komplettes Portfolio an Halbleitermessungen bietet, vom Test der kleinsten Halbleiter bis hin zu komplexen Steuergeräten mit mehreren Prozessoren. Bei uns erhalten Sie alles – nicht nur die fachgerechten Messungen und präzise Ergebnisse, sondern auch den passenden Service dazu. Denn bei uns haben Sie einen hochqualifizierten Projektleiter als festen Ansprechpartner für alle ihre Wünsche und Anforderungen an ihrer Seite. Teilen Sie uns einfach Ihre Halbleiter-Testwünsche mit – wir kümmern uns darum. Inklusive Beratung bei der Testboard-Erstellung, beim Messaufbau und bei der Ergebnisdiskussion und den Auswirkungen auf Ihre weitere Halbleiter-Entwicklung.
Häufig gestellte Fragen
Halbleiterelemente in integrierten Schaltkreisen oder Leistungselektroniken berechnen und verteilen die Daten und Informationen unserer digitalen Welt. Branchen wie Automotive haben erkannt, dass EMV-basierte Fehlfunktionen der Halbleiter und Steuergeräte insbesondere bei sicherheitsrelevanten Systemen wie Airbag, Lenkung und bei automatisierten Fahrfunktionen schwerwiegende Sicherheitsrisiken auslösen können. Ergänzend kommt hinzu, dass Halbleiterelemente immer komplexer werden und immer mehr Funktionen enthalten. Deshalb sind EMV-Messungen an Halbleiterelementen dringend geboten, damit die hochkomplexen elektronischen Systeme sicher funktionieren.
Grundsätzlich ist zwischen Störaussendungen und Störfestigkeit gegenüber externen Störungen zu unterscheiden. Störaussendungen von Halbleitern werden zum Beispiel nach der DIN EN 61967-2 und SAE J1752-3 in der µTEM-Zelle gemessen. Mooser ist einer der wenigen Automotive-Dienstleister weltweit, die diese Messungen anbietet. Weitere Messungen erfolgen nach der DIN EN 61967-4 (Messung der direkten 1 Ohm/150 Ohm-Kopplung an jedem Netzwerkpin) und DIN EN 61967-5 (Magnetsondenverfahren). Aber auch mit Normen wie der IEC 61967-3 (Oberflächenabtastung mit kleiner Messsonde) und IEC 61967-8 (das nur von wenigen Automotive-Dienstleistern beherrschte IC Stripline Verfahren) lässt sich die EMV-Störaussendung messen.
Für die Störfestigkeitsmessungen werden – im Prinzip umgekehrt wie bei den Störaussendungsmessungen – externe Störimpulse an den Halbleiter gebracht und seine Reaktion darauf getestet. Wesentliche Normen sind in der DIN EN 62132-2 (µTEM-Zellentests), DIN EN 62132-3 (Stromeinspeisungs-(BCI-)Verfahren) und der DIN EN 62132-4 (Einprägung der Störgröße direkt vom Verstärker auf die Pins des Halbleiters) definiert. Aber auch Tests nach der IEC 62132-8 (Halbleiter-Stripline-Verfahren) und der IEC62215-3 (Pulsprüfung mit transienten Spannungsverläufen) bringen zu Tage, ob die Halbleiter zuverlässig arbeiten. Transceiver zu den LIN- und CAN-Datennetzen werden nach SAE J2962-1 (LIN) und SAE J2962-2 (CAN) auf Störaussendungen und Störfestigkeit überprüft.
Für EMV-Tests an Halbleitern hält Mooser die passenden Messumgebungen vor. Einzelne Halbleiterelemente werden beispielsweise in der µTEM-Zelle (Transverse Electromagnetic Cell) auf ihre Störemissionen und ihre Störfestigkeit überprüft. Eine Nummer kleiner ist dies auch auf der IC Stripline möglich, einem nur 17 mal 12 Zentimeter großen Testboard. µTEM-Zelle und IC Stripline können bei Bedarf mit einer Schirmbox vor äußeren Einflüssen geschützt werden. Für größere Prüflinge wie komplette Steuergeräte und noch umfangreichere Messungen stehen unsere Kabinen bereit, mit der sich praktisch alle elektromagnetischen Störphänomene ermitteln lassen.
